Лаборатория «Рост полупроводниковых кристаллов» создана в 1959 году под руководством академика М.С. Саидова в Физико-техническом институте АН РУз. В лаборатории проводятся научно-исследовательские работы по изучению физико-химических основ технологии получения полупроводниковых материалов и приборов на их основе. Главными задачами являются установление закономерностей взаимодействия и распределения химических элементов в многокомпонентных одно- и двухфазных системах, применительно к вопросам полупроводникового материаловедения и твердотельной электроники, особенно к солнечным элементам и светодиодам.
Главным направлением исследований лаборатории является выяснение физико-технологических особенностей синтеза новых твердых растворов, модели самоорганизации в двух и многокомпонентных твердых растворах, получения нано-, гомо- и гетероструктур на основе элементарных полупроводников и полупроводниковых соединений класса АIIIВV и АIIВVI на кремниевых подложках, а также исследование фотовольтаических, тепловольтаических, фототепловольтаических и излучательных эффектов в них.
В лаборатории научной деятельностью занимаются 5 докторов наук, 5 кандидата наук, 2 соискателя, 2 докторанта, лаборанты и техники.
Основные достижения лаборатории.
В лаборатории были основаны новые направления исследований полупроводниковых материалов и преобразователей лучистой и тепловой энергии в электрическую: 1) непрерывные твердые растворы полупроводниковых соединений; 2) примесная фотовольтаика.
Впервые, на основе открытого нового явления - образования новых твердых растворов за счет замещения молекулами элементарных полупроводников IV группы молекул полупроводниковых соединений из группы III-V и II-VI и ряда теоретических и экспериментальных исследований, развиты три концепции создания твердых растворов и примесных эффектов в них: 1) О существовании нового класса полупроводниковых непрерывных твердых растворов замещения и перспективах их применения; 2) О путях осуществления примесных фотовольтаических и фототепловольтаических эффектов в фото- и теплоэлементах в целях значительного повышения эффективности солнечных элементов, и термофотовольтаических систем; 3) О физических эффектах, присущих только твердым растворам.
Для разработки концепции о существовании нового класса полупроводниковых твердых растворов замещения выдвинуты следующие идеи: молекулярные элементы C2, Si2, Ge2, Sn2, их комбинации CGe, CSn, SiGeSiSn, GeSn и их более сложные комбинации являются новыми, ранее неизвестными химическими соединениями, не описываемыми традиционными диаграммами состояний, новые химические соединения элементарных полупроводников и бинарных соединений III-V, II-VI в жидких металлических растворителях, при температуре ниже температуры плавления, находятся в виде молекул и образуют твердые растворы замещения при низкотемпературной кристаллизации эпитаксиальных слоев из жидкой фазы. Предложена формула для растворимости различных элементов в многокомпонентных системах и сформулированы условия образования новых твердых растворов замещения, которые заключаются в равенстве сумм валентностей и близких значениях сумм ковалентных радиусов атомов, образующих молекулы раствор-образующих компонентов. Под руководством профессора А.С. Саидова синтезированы на кремниевых подложках новые классы полупроводниковых варизонных непрерывных твердых растворов:
1-класс IV1-xIVx: Si1-xGex, Si1-xSnx, Ge1-xSnx;
2-класс (IV2)1-x(AIIIBV)x: (Ge2)1-x(GaAs)x, (Si2)1-x(GaP)x, (Ge2)1-x(InP)x, (Sn2)1-x(InSb)x, (Si2)1-x(GaSb)x;
3-класс (IV2)1-x(AIIBVI)x: (Ge2)1-x(CdTe)x, (Ge2)1-x(ZnSe)x, (Si2)1-x(ZnS)x, (Si2)1-x(CdS)x, (Si2)1-x(ZnSe)x;
4–класс (IV2)1-x-y(AIIIBV)x(AIIBV)y: (Ge2)1-x-y(GaAs)x(ZnSe)y, (Si2)1-x-y(ZnSe)x(GaP)y.
В основу концепции о путях осуществления примесных фото- и фототепловольтаических эффектов предложены идеи о целесообразности использования изовалентных примесных элементов и соединений, соответствующих условию образования твердых растворов молекулярного замещения на основе базовых полупроводников. Предложен механизм фотовольтаического эффекта, обусловленного изовалентными примесями, энергетические уровни которых находятся в валентной зоне.
Впервые обнаружены энергетические уровни молекул (Si2, Ge2, GaP) узкозонных полупроводников, расположенные внутри запрещенной зоны широкозонных полупроводников соединений АIIIВV и АIIВVI, а также уровни молекул (GaAs, CdS, ZnSe) широкозонных полупроводников внутри валентной зоны узкозонного полупроводника.
Впервые обнаружено двухцветное излучение диодной гетероструктуры nGaP-n+(ZnSe)1-x-y(Si2)x(GaP)y (0 £х£ 0.03, 0 £y£ 0.09), обусловленное электронными переходами с участием молекулярных уровней Si2 (красного света) и GaP (желтого света) с энергетическими уровнями 1,63 эВ и 2,2 эВ, соответственно, расположенными в запрещенной зоне твердого раствора (ZnSe)1-x-y(Si2)x(GaP)y.
Впервые обнаружен тепловольтаический эффект в кремнии, полученном многократной переплавкой технического кремния в солнечной печи и варизонных твердых растворах Si1-xGex, заключающийся в генерации тока и напряжения при однородном нагреве образца с омическими контактами.
Впервые обнаружен фототепловольтаический эффект в nSi-p(Si2)1-x-y(Ge2)x(GaAs)y, pSi-n+(ZnSe)1-x-y(Si2)x(GaP)y гетероструктурах, заключающийся в генерации тока и напряжения при совместной фото и тепло генерации носителей тока под солнечными излечениями.
Впервые, на основании развитых представлений о возможности развития процессов самоорганизации дефектов в полупроводниках группы III-V, обнаружен тепловольтаический эффект в этих материалах.
Впервые обнаружено белое свечение в nSi-pCалмаз, nSiC-pCалмазгетероструктурах без люминофора.
Впервые, экологически чистым методом, в малой солнечной печи, восьмикратной переплавкой металлургического кремния с чистотой 96 атомных %, на открытом воздухе, получен поликристаллический кремний с чистотой 99,9 атомных %. В лаборатории подготовлены 8 докторов наук, из них 1 академик АН РУз, 3 лауреата государственной премии Республики Узбекистан, 27 кандидатов наук.
В лаборатории имеется полное технологическое оборудование для выращивания многокомпонентных твердых растворов и гомо- и гетероструктур на их основе, а также она оснащена соответствующим оборудованием для анализа и исследования электрофизических и оптических параметров полученных структур. Это дает возможность совершенствовать соответствующие технологические процессы и улучшать характеристики изготавливаемых структур. Исследования проводятся с использованием современного научного оборудования при участии высококвалифицированных специалистов.
Телефон: +99871 2359361
Факс: +998712354291
E-mail: ftikans@uzsci.net
Адрес: Узбекистан, 100084, г. Ташкент, ул. Чингиз Айтматов 2Б